Đúng như hứa hẹn, Samsung đã chính thức công bố kết quả điều tra nguyên nhân gây ra sự cố Galaxy Note 7 bốc cháy sau một thời gian dài điều tra.
Theo đó, người đứng đầu bộ phận Samsung Mobile - CEO DJ Koh đã thực hiện một cuộc họp báo diễn ra vào 8 giờ sáng nay (23/1) theo giờ Việt Nam tại Seoul, Hàn Quốc, với lời xin lỗi sâu sắc gửi đến khách hàng và các đối tác kinh doanh trước khi đưa ra nguyên nhân khiến Galaxy Note 7 bốc cháy và buộc phải khai tử.
Sự cố siêu phẩm Galaxy Note 7 là vấn đề được giới công nghệ quan tâm nhất trong thời gian qua
Samsung cho biết, nguyên nhân sự cố được xác định xuất phát từ tế bào pin giống như các báo cáo rò rỉ trong vài tuần qua. Ông Koh cho biết, nguyên nhân chính của đợt thu hồi đầu tiên xuất phát từ độ võng trong các điện cực âm, còn hiện tượng đoản mạch xảy ra trong quá trình hàn đã khiến đồng nóng chảy đã gây ra sự cố ở lần thu hồi thứ hai.
Cũng theo giải thích của ông Koh, quá trình kiểm tra được thực hiện thông qua phương pháp thử nghiệm nội bộ công ty, với 700 nhân viên chuyên biệt thử nghiệm với 200.000 điện thoại và 30.000 pin dự phòng. Họ tiến hành thử nghiệm trong một cơ sở độc lập để cô lập các trường hợp gây ra vụ nổ, bao gồm kết nối không dây, khả năng quét mống mắt và kết nối USB-C.
Ngoài ra, một số thử nghiệm bên ngoài cũng đã được thêm vào, xuất phát từ nhóm tư vấn pin, bao gồm UL, Exponent và TUV Rheinland với kết quả đều cho lý do tương tự, trong đó UL nói rằng những sai sót trong tế bào pin đã gây ra sự cố.
Chủ tịch nhóm tiêu dùng Jesudas trích dẫn một số vấn đề thiết kế tiềm năng dẫn đến sự kiện ngắn mạch, trong đó có mật độ pin cao hơn, chất lượng mối hàn kém, cách nhiệt bị mất và thiết kế cạnh sắc nét. Ông cũng nói thêm, yếu tố thiết kế và sản xuất chính là nguyên nhân gốc rễ của vấn đề.
Cuối cùng, ông Koh lưu ý rằng 96% trong số 3 triệu Galaxy Note 7 bán ra thị trường đã được thu hồi và công ty sẽ thiết lập các biện pháp bảo vệ mới trong tương lai để smartphone của hãng an toàn hơn, trước mắt là Galaxy S8 mà hãng sắp ra mắt thị trường.